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  • kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測試儀

    kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測試儀是一種非接觸、實(shí)時(shí)測量半導體襯底表面溫度的測試系統,采用半導體材料吸收邊隨溫度的變化,實(shí)時(shí)測量晶片/襯底的溫度;并且kSA BandiT 已經(jīng)成功地安裝到眾多的MBE, MOCVD, Sputter, PLD等半導體沉積設備上,實(shí)現了晶片的溫度實(shí)時(shí)檢測。

    更新時(shí)間:2024-04-23

    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商

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